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采用脉冲准分子激光大面积扫描沉积技术,在透明导电玻璃(ITO)及Si(111)单晶基片上沉积了尺寸达4×4cm^2,具有高c轴(001)取向生长的V2O5薄膜,采用X射线衍射(XRD)、拉曼光谱(RS)、傅里叶红外光谱(FT-IR)对沉积及不同温度下退火处理的样品结构和光谱特性进行了研究。