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在微波器件应用领域不断扩展的趋势下,对微波器件可靠性的要求也在日益提升。在评估微波器件的可靠性时,射频动态老化试验是非常重要的一个试验。试验系统的实用性、经济型和可靠性对评估的准确性和安全性有着直接的影响。文章将微波混频器作为研究对象,搭建了射频动态老化系统,提高了电路系统的稳定性。实践证明,利用此系统可以更好地完成微波器件的老化过程,相较于静态老化系统有了显著的改进和提升。