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<正> 可靠性技术发展,经过了摸底奠基期(1950～1956年)、深入发展期(1957～1962年)、成熟普及期(1962～1967年),目前已进入可靠性保证期。元器件水平已由六十年代的10～100 Fit(菲特)提高到0.1～0.01Fit(1菲特=10~(-9)/小时)。各类元器件的失效模式及机理已基本清楚,各类试验规范、可靠性设计规范及可靠性各类标准已较成熟完整。美国、日本等国数据中