【摘 要】
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目的 探讨高功率微波辐射后下丘脑神经元凋亡、线粒体膜电位与Ca2+的变化.方法 以10与30 mW/cm2高功率微波辐射原代培养的下丘脑神经元,于辐射后6 h采用倒置显微镜和流式细胞术检测细胞的凋亡、线粒体膜电位与胞浆钙离子的变化.结果 辐射后6 h,10与30 mW/cm2组凋亡率与假辐射组相比均明显增加;30 mW/cm2组辐射后坏死率与假辐射组比较亦明显升高,差异有统计学意义(P＜0.05)
【机 构】
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100850,北京,军事医学科学院放射医学研究所,100850,北京,军事医学科学院放射医学研究所,100850,北京,军事医学科学院放射医学研究所,100850,北京,军事医学科学院放射医学研究所,
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目的 探讨高功率微波辐射后下丘脑神经元凋亡、线粒体膜电位与Ca2+的变化.方法 以10与30 mW/cm2高功率微波辐射原代培养的下丘脑神经元,于辐射后6 h采用倒置显微镜和流式细胞术检测细胞的凋亡、线粒体膜电位与胞浆钙离子的变化.结果 辐射后6 h,10与30 mW/cm2组凋亡率与假辐射组相比均明显增加;30 mW/cm2组辐射后坏死率与假辐射组比较亦明显升高,差异有统计学意义(P＜0.05).辐射后6 h,30 mW/cm2组Ca2+明显升高,膜电位性明显下降,差异均有统计学意义(P＜0.01).结论 细胞凋亡是下丘脑神经元死亡的主要方式之一,胞浆内Ca2+超载及线粒体膜电位的下降参与其损伤过程。
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