用Coulomb爆炸实测4HeD+的键长

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用1.468 0 MeV 4HeD+在超薄无衬碳膜中的Coulomb爆炸,获得4HeD+的键长实测值为(0.097±0.003)nm.讨论了4HeD+的形成机理.介绍了 4HeD+原始束中D+3污染的降低,及产物4He++和D+高分辨能谱测量中的粒子鉴别方法等.
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