【摘 要】
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提出了一种基于光弹调制技术的波片相位延迟量测量方法,利用米勒矩阵对其进行了理论推导和误差分析.测量光路包括激光器、起偏器、光弹调制器、被测波片、检偏器和光电探测器
【机 构】
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中国科学院上海光学精密机械研究所,中国科学院研究生院
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提出了一种基于光弹调制技术的波片相位延迟量测量方法,利用米勒矩阵对其进行了理论推导和误差分析.测量光路包括激光器、起偏器、光弹调制器、被测波片、检偏器和光电探测器,利用探测信号的归一化基频分量和二次谐波分量精确计算出被测波片的相位延迟量.该方法能测量紫外到红外光谱范围内任意相位延迟量的波片,误差分析表明其误差小于0.05°.实验验证了该测量方法的有效性,波片相位延迟量的重复测量精度为0.0048°.
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