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n取n-k＋1系统在可靠性理论和实际应用中扮演着非常的角色。本文考虑由两组独立元件分别构成的两个n取n-k＋1系统在多个监控下剩余寿命的随机比较问题。结果表明，n取n-k＋1系统在双监控下剩余寿命的一些随机性质在3个监控下同样成立，并进一步得出分别由两组独立同分布元件组成的两个系统在多个监控下剩余寿命关于似然比序的随机比较。