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随着电力电子技术的发展，半导体开关器件越来越广泛地应用于电力设备高电压试验领域。基于一种新型高压半导体开关，设计并制作了一套全新的多功能电力电缆检测设备，即超低频余弦方波测试系统，其既可用于耐压试验，也可用于局部放电检测与定位，还可用于介质损耗测量。基于绝缘栅双极型晶体管（IGBT）芯片串联结构的半导体开关动作速度快，性能稳定可控。实验搭建的余弦方波系统可输出最高20kV的超低频余弦方波电压，满足国际标准IEEE400．2的要求。最后，使用设计好的系统对一段300m有缺陷的电缆进行了局部放电测试。验证了设