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阐述了系统芯片(SoC)测试相比传统IC测试的困难,SoC可测性设计与测试结构模型,包括测试存取配置、芯核外测试层,以及测试激励源与测试响应汇聚及其配置特性、实现方法与学术研究进展,介绍了基于可复用内嵌芯核的SoC国际测试标准IEEE P1500的相关规约;最后,建议了在SoC可测性设计及测试中需要密切关注的几个理论问题.