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提出了一种提高MOS采样开关线性度的新方法。通过采用电阻分压电路实现一个处于线性工作状态的“复制”MOS管，使其与采样MOS管具有相同的阈值电压。较之传统栅压自举开关，此新型MOS采样开关能够消除由于阈值电压随输入信号变化所产生的非线性。基于Chartered 0．35μm标准CMOS工艺设计的新型采样开关，在输入信号为30MHz正弦波，峰一峰值为1V，采样时钟频率为80MHz时，无杂散动态范围达到了110dB，较之自举采样开关提高了12dB左右；同时，导通电阻的变化减小了90％。