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X射线ω扫描技术是一种较方便地确定和分析薄膜织构的方法,能够克服常规XRD方法测定薄膜纤维织构难获得薄膜信息的问题。本文对这种方法进行了介绍,利用电镀法在2024铝合金上制备了不同电镀时间的Ni-Fe合金镀层,利用X射线ω扫描技术对镀层进行织构表征,对电镀时间与织构特性的关系进行了讨论。