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目的:研究推上颌第一磨牙远移后,其结果在模型和X线颅颌侧位定位片中的测量值有无差异.方法:对10例安氏Ⅱ亚类错畸形患者的磨牙水平向远移结果进行对比分析,平均治疗时间101 d,两种方法的最终测量值作统计学t检验处理.结果:模型和X片显示:上颌第一磨牙远移量(3.71±1.47)mm和(3.78±2.02)mm(P＞0.05);下颌磨牙近移量(0.80±0.56)mm和(0.99±0.63)mm(P＞0.05).结论:模型和X线颅颌侧位定位片对磨牙水平向移动量的测量分