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针对电荷耦合器件(Charge Coupled Devices,CCD)工作过程中出现的固定亮点,通过对同一探测器在不同条件下测试以及不同型号探测器之间的比对分析,确认了积分时间、温度以及亮点阈值是固定亮点产生的最主要原因。进一步的研究表明,固定亮点对探测器影响有限,且可以通过数据处理予以消除。