使用Multi-Sector技术提高混合信号芯片的并行测试效率

来源 :中国集成电路 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wan801130
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1介绍rn测试系统的设计面临着越来越多的挑战.工厂产量的需求多种多样,芯片的测试要求也越来越复杂,如今测试工程师需要的是简单易学并且使用效率高的测试机.根据测试的产品不同,测试生产线成本的管理和策略也不一样.有大批量产品的工厂通常是通过最大化测试位数量来提高效率.然而,批量小、产品种类多的工厂发现提高测试位数量未必最好.而且,一些工厂可能两种情况都存在.从技术角度来看,测试系统的硬件资源必须足够强大、足够多,才能满足需要高并行测试效率(PTE)的目标芯片类型的多测试位测试要求.因为测试生产线的策略不同,测试系统需要具备足够的可扩展性,来支持少测试位和多测试位的配置要求,从而优化每种情况的测试成本.从人力方面来看,有竞争力的测试机需要提供简单但强大的编程环境,具有全面的软件工具和功能.
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