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简要介绍了混合信号测试总线IEEE1149 4标准和KLIC混合信号总线测试用的实验芯片。使用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行了简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试等。测试结果表明,IEEE1149 4测试总线在这些测试中是非常成功的,并同时指出了其局限性。