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<正> 一、前言目前国内外采用的各种颗粒系粒度测量仪器,主要是依据颗粒的物理、化学性质实现粒度测量。这些粒度计依据其工作原理可分为:显微镜法(即对颗粒平而投影的直接观测法),重力或离心力沉降法和分级法三类。其中历史最为悠久的显微镜法,具有两个重要的特点:(1)可以对颗粒系样本粒子逐个单独进行测量;(2)可对“粒径”进行直接几何量度。目前广泛应用于工业的许多粒度计并不具备这