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本文以纯Y_2O_3中杂质元素的ICP-AES测定为例,研究用数值微分技术解决光谱干扰同题。结果表明,导数光谱法不仅可以有效地消除来自基体的光谱干扰,还能减小谱线干扰对检测能力的影响。当分析物浓度较低时,导数光谱法的加入回收率明显优于离峰分析法,多数情况下也优于在峰法校正光谱干扰时的回收率。