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本文讨论了用X射线荧光光谱检验标准物质中痕量元素的均匀性时,可根据峰和背景强度确定能否用XRF进行检验,以及相应于一定精度度要求的浓度下限(可检浓度),并以大米和岩石标准物质为例,计算了C-的可检浓度。还指出,作为均匀性检验量应采用浓度或净强度,尤其是对于痕量元素,最后说明了样品基体对可检浓度和最小样品量的影响。