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研究水分胁迫对美国山核桃叶绿素荧光参数的影响，以探究水分胁迫损伤光合作用的机理．结果表明；在离体快速干旱水分胁迫处理方式下，美国山核桃叶片Fo、Fm、Fv／Fm、Fv／Fo、qP在离体6h时均下降，但降低幅度不大；Yield和qN在离体6h时分别显著下降和上升，此说明美国山核桃苗遭遇水分胁迫时，叶片的PSⅡ反应中心电子传递活性受到了一定程度的影响，但影响不大；光合电子传递速率明显下降.PSⅡ反应中心耗散过剩光能的能力增强，其可作为品种耐旱能力的鉴定指标．