应对串行数据测试挑战,泰克推出高速串行数据测试设备

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  近日,泰克公司(Tektronix)发布了AWG7000任意波形发生器以及DSA8200数字串行分析示波器解决方案,新产品旨在满足日益普遍的高速串行数据总线设计和测试要求。
  
  AWG7000任意波形发生器
  
  AWG7000专为满足高速串行数据总线和宽频数字射频设备的测试要求而设计。凭借5.8GHz的带宽,10位分辨率以及高达20GS/s的取样速率,AWG7000能够生成高速、真实波形的AWG,包括预加重/去加重以及高达10Gb/s的多电平信号。AWG7000是适用于高速串行及宽带射频信号的全能型信号源。
  设计工程师研发SATAIII、PCIExpress 2、2x XAUI、HDMI 1.3、UWB、最新存储设备以及雷达等新技术时,必须处理大量的数据,同时速度、带宽和频率都有更高的要求,常常涉及最新的高速规范。工程师在设计及测试过程中,可使用AWG创建、复现、生成理想、失真或“实际环境”信号,包括噪声、抖动、毛刺以及其他非理想信号,这些信号在最新的串行数据或宽频数字射频设计中,有助于建模、调试、验证以及标准一致性测试。
  AWG7000基于一个全新的高性能平台,其包含一个新型数模转换器(DAC),可以获得更高的精度和性能。该转换器采用IBM 7HP硅锗(SiGe)工艺,可提高垂直分辨率和取样速率,为信号保真度和定时精度确立新的性能标准。实际上,AWG7000能够灵活的创建、复现、生成任何类型的信号,是目前功能最强大的全能型信号发生器。
  AWG7000系列的取样速率从上一代产品的4.2GS/s提高到现在的20GS/s。AWG7000能够生成高达10Gb/s的信号,适用于高速串行数据应用,以及采用5GHz调制数字RF/IF信号的宽带应用,包括高级雷达技术。AWG7000领先业界的性能组合,完全能够满足新一代高速串行及宽带数字射频技术的测试需要。
  
  连接功能配置
  
  包括GPIB及千兆以太网。该产品有1或2个模拟通道和2到4个标尺输出,能够生成混合信号波形,用于模拟信号和数字控制信道。AWG7000还能够方便地和第三方软件进行数据交换,包括MatLab、MathCad和MicrosoftExcel,这些软件常用于创建和生成波形、数据流和混合信号,以协助完成新产品的设计、建模、调试以及一致性测试。
  


  
  DSA8200数字串行分析示波器解决方案
  
  新型DSA8200数字串行分析仪取样示波器和全新的远程取样电子模块以及增强型IConnect软件共同组成了串行数据网络分析应用的全新解决方案。
  数千兆串行标准的出现促使功率预算和时序容限下降。因此,准确分析时域和频域中的信号路径和互连情况,对于全面了解当今高速串行设计中信号损失和串音的影响至关重要。PCIExpress、串行ATA、XAUI和Infiniband等业界标准,逐渐开始要求使用S参数和阻抗测量来描述这些影响的特征,同时确保系统的互操作性。借助提高2.5倍的TDR性能和新式自动化工具,新的DSA8200解决方案符合串行数据网络分析要求。DSA8200解决方案,可针对当前和各种新兴标准的lGb/s到12.5Gb/s串行数据率,实现准确且可重复的S参数测量。
  “工程师很难准确地描述信号路径对数千兆串行数据传输的影响。”泰克公司光电产品线总经理Brian Reich指出。“对于串行数据网络分析而言,泰克DSA8200解决方案为工程师提供了一套节约时间和成本的全能型工具。早先的替代品是一种专业频域仪器—一矢量网络分析仪(VNA)。但是,VNA需要繁琐的设置和校准步骤,而且比新型的泰克TDR解决方案昂贵得多。用DSA8200主机、新的电子模块和lconnect,只需要几分钟即可完成串行数据网络分析中的TDR和s参数测量程序,而用VNA通常需要花费几个小时来安装和执行。”
  DSA8200数字串行分析仪基于新一代的硬件主机,专为日益需要信号路径特征和一致性验证的通信、计算机和消费电子行业而设计。据称DSA8200拥有诸多功能及出色的准确性,符合高速串行标准(包括PCI—Express II、FB-D1MM II、SATA II和10Gb以太网)中,差分通道互连时域和频域的特性分析、设计验证和一致性验证的需要。
  DSA8200扩展了TDS/CSA8200系列的功能,完全支持相同模块和软件。新主机采用高速处理器,具有MicrosoftWindows XP操作系统的优点。新的前面板安装了DVD/CD-RW驱动器和USB 2.0端口。DSA8200具有6个主机插槽,便于其模块化架构扩展。此外,DSA8200最多可配置4个真差分TDR通道。
  四个新型电子模块将高带宽和低噪音结合在一起,以应对低功率、高比特率差分信号的发展趋势。这些模块包括一些高级实用功能,如±250ps的通道到通道和模块到模块校正、用户可选择带宽以及体积小巧的远程取样器等。每个通道都有一个完全集成的2m电缆和远程取样器,取样器将TDR头紧靠受测设备(DUT),最大限度地降低探针、电缆和夹具的影响。这可确保系统尽可能保持一种真实状态,以保证测量准确性和可重复性。80E10双通道真差分TDR模块提供12ps入射和15ps反射TDR上升时间、50GHz带宽和600μVRMS噪音(该性能级别的最低噪音)。80E10能够独立生成阶梯信号用于真差分测量,此外还确立了业界领先的全集成系统规范,是20年来TDR性能取得的最重要成果。
  其他模块包括80E08,这个双通道TDR电子模块具有18ps入射和20ps反射上升时间,30GHz带宽条件下噪音为300μVRMS两个新的双通道低噪音电子模块80E09和80E07,在60GHz和30GHz条件下的噪音分别为450μVRMS和300μVRMS
  IConnec软件可对千兆串行数据互连进行有效简便的信号完整性分析。IConnect能够迅速测量插入损失和回波损失、反射、眼图、抖动、串音、反射和振铃。IConnect产品系列有三种产品配置:Iconnect、IConnect S参数和带MeasureXtractor的Iconnect。IConnect应用程序包括信号路径完整性分析、阻抗特征、S参数(插入损失和回波损失)、眼图一致性测试以及故障隔离。
  新的命令行界面(CLI)支持自动化多端口S参数测量和其他一致性测试,ICormect现在还支持lM点的长记录。1M内存可在测量长设备(如电缆)时提供足够的S参数频域分辨率和最高频率。新的EZZ线观测器可动态调整示波器,以便在封装、PCB和芯片上实现更有效的故障隔离。IConnect还支持Touchstone文件导出功能。
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