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随着高压直流输电迅猛发展，绝缘材料在直流电压下表面电荷积聚现象严重威胁直流输电系统的安全可靠运行。为加快绝缘材料表面电荷的消散，采用大气压等离子体射流，以TEOS为前驱物，在环氧树脂表面沉积SiOx薄膜。对改性前后材料表面化学组成、表面电导率、表面电荷特性、表面陷阱分布以及耐压特性进行多参数测量，研究等离子体射流改性前后环氧树脂表面特性。实验结果表明：等离子体处理在环氧树脂表面引入大量以Si-O-Si及Si-OH基团为主的无机基团，且表面电导率提高2个数量级。随着改性时间的延长，表面电荷的初始积聚量减少，