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本文利用电磁辐射理论计算了避雷针接闪产生的电磁脉冲辐射在10m—1000m范围的强度；同时分析了雷击电磁脉冲辐射强度对当信息网络和微电子设备环境屏蔽不够好的情况下的影响和危害；提出了接闪装置的构成形式也影响智能建筑的年预计雷击次数和LPz0。区的LEMP强度，提出了一些提高现代智能建筑防雷设计新理念和方法。