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提出了一种用迈克尔逊干涉仪探测隐失场的方法。利用切向力调制方法确定安装在双压电陶瓷片上光纤探针与样品间的最小距离,通过压电陶瓷管控制探针移动,用光电倍增管测量光纤探针的输出光信号强度,获得了全内反射产生的隐失场度随探针与样品间距增加而快速衰减的特性曲线。结果表明,这种测量装置具有结构简单可靠、操作方便等特点。