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以2个杏品种幼果为试材，研究了低温及INA细菌影响下叶绿素荧光参数的变化。结果表明，低温胁迫降低了杏幼果PSⅡ潜在活性（Fv/Fo)、原初光能转化效率（Fv/Fm)和荧光光化学猝灭系数qP，提高了荧光非光化学猝灭系数qN。即使光合电子传递的量子产额下降，INA细菌能加剧低温胁迫的破坏程度，使受害温度由－4℃升高到－2～-3℃，是诱发幼果霜冻害的一个重要因素。另外，叶绿体PSⅡ活性中心的受害程度与品种及幼果大小有关。