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微型磁通门磁强计的测试是其整体研究的重要组成部分。利用探针卡搭建的测试平台并基于LabVIEW进行后续信号处理的测试系统，可在封装前对磁通门探头进行测试，解决了微型磁通门磁强计的测试问题。采用搭建的测试系统分别对微型磁通门探头与磁通门样机进行测试，测试结果发现，微型磁通门探头的最佳激励频率为3．2MHz，磁通门样机的灵敏度为34．8V／T，表明测试系统能用于微型磁通门磁强计的测试，为微型磁通门磁强计的研究打下了坚实的基础。