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雾化现象涉及到气液界面复杂的拓扑变化,使得雾化过程极其复杂。目前针对一次雾化的机理研究及模型尚不够准确,由于数值计算方法的快速发展,越来越多的研究者采用数值方法来研究一次雾化。本文采用大规模的直接数值模拟手段和Level Set追踪气液界面的方法模拟旋转射流的一次雾化过程,以揭示旋流雾化的机理和界面不稳定波的贡献。