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本文对５５例安氏Ⅱ类１分类错Ｈｅ患者的Ｘ线头颅侧位片分别做Ｓｔｅｉｎｅｒ臂章和Ｔｗｅｅｄ分析法比较，计算矫正下前牙位置所需间隙量，并分组进行统计学分析。结果表明：当ＳＮＡ和ＳＮＢ角均正常时，两者结果无差异；当ＳＮＡ或ＳＮＢ角异常时，Ｓｔｅｉｎｅｒ臂章分析法所需间隙量大于Ｔｗｅｅｄ分析法（Ｐ〈０．０５）。本文提示在矫治安氏Ⅱ类错Ｈｅ时不能单凭Ｓｔｅｉｎｅｒ或Ｔｗｅｅｄ分析法就制订出治疗方案。