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利用改造的扫描电子显微镜(SEM)设备,在SEM腔体中利用钨(W)探针测试了单颗粒金刚石的I-V与场发射特性,结果表明结晶良好的金刚石的I-V特性服从欧姆定律,而孤立的菜花状金刚石颗粒(cauliflower-like diamond)的I-V特性基本符合Pool-Frenkel输运特性.场发射特性表明,结晶良好的金刚石薄膜基本没有场发射,而孤立的菜花状的金刚石颗粒具有一定的场发射.CVD金刚石的场发射过程中,缺陷对电子的输运起主导作用.