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采用动电位扫描极化曲线、电化学阻抗谱、Mott—Schottky曲线等电化学测试方法，研究了在室温0．1MNa2SO4溶液条件下，不同极化电位对锆合金钝化膜性能的影响。结果表明，锆合金表面钝化膜表现出n型半导体性质，随着极化电位的增加，锆合金钝化膜缺陷密度下降，半导体性质减弱，阻抗值增大。阻抗谱可以用RQ并联后与溶液电阻Rs串联的等效电路来拟合。在相同的极化电位下，含Nb的N18合金表面钝化膜的缺陷密度要小于出厂退火态Zr-4合金。