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针对Nand Flash存储器存在坏块的问题,提出一种基于STM32的Flash存储器坏块自动检测方法,通过STM32内部可变静态存储控制器,发出相应的数据、地址、控制信号,在不增加外部器件的情况下,快速访问Flash存储器,并给出了部分硬件电路和C语言编写的程序代码.该设计已成功实现自动检测Flash坏块的功能;操作简单、检测速度快、准确率高;并能读取Flash的ID号检测Flash性能,同时能够存储和读取2GB数据.