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针对传统的X射线CT系统因采用积分探测器难于鉴别材质的关键技术问题，基于MARS系统的X射线能谱CT，开展了X射线能谱K—edge特性的CT成像技术研究。通过对单一材质和混（复）合材质组成的物理模型的多个X射线能量段进行CT断层扫描，获得了材质的K—edge特性曲线，以此重建出了材质的CT图像。借助材质K—edge特性的CT断层图像，可以进行材质的鉴别分析或进行更多的材质认知信息的分析研究。与传统的X射线CT技术相比较，它可以提供更为丰富的x射线衰减信息。