叠片法测量脉冲X射线源焦斑

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介绍了叠片法测量脉冲X射线源焦斑的原理.对确定结构和尺寸的金属、薄膜叠片及测试系统布局,数值计算了叠片法的空间分辨及对均匀分布线光源的输出响应,得到响应曲线半高宽与焦斑尺寸的对应关系.计算结果表明,叠片法不适用于测量小于2 mm的焦斑.在感应电压叠加器上开展了阳极杆箍缩二极管实验,采用叠片法测量二极管X射线源轴向焦斑,与针孔照相结果基本相符,说明叠片法可用于脉冲X射线源焦斑尺寸测量.
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