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为了观测含碳酸盐地幔岩部分熔融过程中电导率的变化,厘清碳酸盐熔体在金伯利岩岩浆形成过程中所起的作用,并探讨Slave克拉通中部Lac de Gras地区约80~120km深处的高导成因,我们利用DS3600t六面顶压机和Solartron 1260阻抗/增益-相位分析仪在1.0~3.0GPa、673~1873K温压条件下分别测量了含碳酸钠(Na2CO3)、碳酸钙(CaCO3)和大洋中脊玄武岩(MORB)的地幔岩样品的电导率.实验结果表明,地幔岩样品的电导率主要受到温度和组分的影响,而压力对其影响较小.在温