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利用喇曼光谱技术对麦秆表面元素分布进行研究，对麦秆材料中的相邻部位、不同层次间进行多次、反复激光扫描，得到一系列谱线，其中除谱峰略微漂移外，整体上重复性很好、在其中选出重复性较好的一组谱线，与已研究出的喇曼谱图对比，可知麦秆表面主要含有C、O、N、Si等元素、研究表明麦秆中Si元素主要以SiO2的形式存在，主要分布在外表面角质层中。