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静态存储器（SRAM，static random access memory）型现场可编程门阵列（FPGA，field programmable gate array）是一种对空间辐射效应较为敏感的航天器电子元器件。由于其特有的构造和工作方式，单粒子辐射效应对SRAM型FPGA造成的影响及其引起的故障模式有着区别于一般电子元器件的特征。为了提高SRAM型FPGA在空间应用中的可靠性，以该类型FPGA的主流器件作为研究对象，深入分析了FPGA在空间应用中的各种故障模式，研究了相应的各种容错方法。研究表明，通