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电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）是目前元素痕量检测中最有效的分析仪器之一,但接口传递效率及基质干扰仍困扰仪器性能的进一步提高。借助于激光诱导荧光技术,搭建了用于研究接口界面传递分析物离子的实验装置。通过计算锥口前后离子荧光信号强度变化,探讨了不同实验条件下的截取锥传递效率。结果表明截取锥离子传递效率大大低于理想截取过程;电感耦合等离子体（ICP）射频功率的变化对截取锥传递效率影响不大,但雾化气流速及第一真空区压力的升高,都使截取锥效率传递效率降低。该结果为接口设计改进及仪器整体性能的提高提供了理论支