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新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是由于母亲因素、胎盘、脐带异常、分娩用药、产程延长、新生儿本身呼吸、循环、中枢神经系统（CNS）疾病等所有可能引起新生儿脑内缺氧缺血性损伤，使患儿产生一系列中枢神经系统症状的疾病。因为缺氧缺血致使患儿留有不同程度的神经系统后遗症，如智力发育障碍、癫痫、脑瘫等。MRI以无创、无辐射及任意方位成像的手段不仅从解剖角度反映新生儿脑部变化，而且弥散张量成像（DTI）从水分子的扩散运动方向上发现细微结构的异常，此技术能在HIE早期从分子水平和代谢水平的方面反映其变化，进行HIE病变性质