钙钛矿结构锰氧化物薄膜材料的低频1/f噪声研究

来源 :磁性材料及器件 | 被引量 : 0次 | 上传用户：marsxiaozhu

【摘要】

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针对A位掺杂钙钛矿结构锰氧化物(A1-xBxMnO3)薄膜材料的微弱低频1/f噪声信号检测,采用基于双通道信号互相关运算的测试方法,有效消除了接触噪声对本底噪声的影响。通过对薄膜

【作者】

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吴晟贾文娟许丽萍邓云梁津津兰卉

【机构】

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天津大学材料科学与工程学院,国家海洋技术中心

【出处】

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磁性材料及器件

【发表日期】

：

2019年3期

【关键词】

：

钙钛矿结构锰氧化物薄膜材料晶格结构低频1/f噪声热噪声 perovskite structure manganese oxide thin film m

【基金项目】

：

国家重点研发计划基金资助项目(2016YFC1400302,2016YFC1400502),国家海洋技术中心创新基金资助项目(K11600473).

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针对A位掺杂钙钛矿结构锰氧化物(A1-xBxMnO3)薄膜材料的微弱低频1/f噪声信号检测,采用基于双通道信号互相关运算的测试方法,有效消除了接触噪声对本底噪声的影响。通过对薄膜样品La0.7Sr0.3MnO3的低频1/f噪声和电阻率测量,揭示了由不同衬底材料、不同厚度所引起的薄膜晶格内部应力变化对载流子输运机制的影响。结果表明,薄膜样品的1/f噪声水平和导电特性与材料厚度变化密切相关,La0.7Sr0.3MnO3/SrTiO3样品在临界厚度下表现出较低的1/f噪声;而La0.7Sr0.3MnO3/SrT

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