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随着红外焦平面探测器的快速发展及其在军事和民用方面的广泛应用,焦平面器件的不均匀性参数成为制约器件性能和应用的关键参数,降低不均匀性已成为红外焦平面器件的关键技术之一.本文分析了影响焦平面不均匀性的几个方面,并针对目前使用的行积分式DI型读出造成的不均匀性进行了分析,提出了一种改进方法,为提高焦平面器件的性能提供参考.