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在SoC设计中，传统功能验证方法已显示出其缺点，主要问题有：复杂验证场景难以构建；边缘情况难以覆盖。针对这些问题，业界提出了一种新的功能验证方法学——受限随机矢量生成的功能验证，该方法在满足约束条件的前提下，随机产生验证矢量。本文研究了受限随机矢量生成的功能验证在SoC设计中的应用，并以基于E语言和Specman验证平台验证了SoC芯片中的外部存储器接口，给出了具体的验证环境和验证步骤。验证结果表明，复杂验证场景和边缘情况的覆盖率均达到了100％。极大地提高了验证的效率和质量。