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目的使用金属氧化物半导体场效应晶体管（metal oxide semiconductor fiel deffect transistor，MOSFET）探测器测量面罩对表面剂量的影响。方法选用6MV和15MVX射线进行照射，分为有面罩组和无面罩组，用MOSFET分别测量，每组测5次，共测量5种不同密度的面罩。结果使用面罩后表面剂量明显增加；不同面罩对表面剂量的影响程度不同。结论使用面罩后射线的剂量建成区出现变化，表面剂量明显提高。临床治疗中需要适当关注皮肤表面的放射反应。