论文部分内容阅读
由于现代星载雷达高度计采用了脉冲压缩技术，引入了电离层色散误差，在双频高度计的低频段该误差更明显．本文基于全去斜技术的理论模型，推导了这项误差的机理，提出可以把该误差等效为二次相位误差，并结合具体参数给出了分析的结果．本文还讨论了Chirp信号的多普勒误差对测高的影响．最后，作者通过计算机仿真得到了电离层色散效应对系统点目标响应的影响，对前面的结论进行了验证．