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为评价含铝炸药中铝粉的活性，用X荧光（XRF）光谱法、X衍射（XRD）光谱法测定了FLX、FLU系列中铝粉的活性。结果表明，仅XRF可以用于铝粉活性的分析。铝粉活性测试校正系数由拟合XRF法与标准方法GJB1738-1993的结果得到。XRF法和标准方法GJB1738—1993所得A-Ⅸ-Ⅱ炸药中铝粉活性结果的相对测量误差≤4％。