论文部分内容阅读
在考察了外腔半导体激光器（ＥＣＬＤ）的振荡频率υ与激光二极管（ＬＤ）中载流子密度Ｎ（或增益ｇ）、介质的折射率ｎ以及ＬＤ第ｍ个模式的共振频率υｍ间的关系之后，利用微扰法对ＬＤ的Ｎ－υ曲线上被前人错判为不稳定的两个关键区段重新进行了分析，结果表明这两个区段是稳定区段，据此，可以确定在对ＥＣＬＤ进行调频的过程中其增益介质的Ｎ－υ曲线上出现的双稳环。