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引言随着现代半导体技术的发展,将整个系统集成在一个芯片上成为可能,即通常所说的片上系统集成SoC(System-on-chip).由于SoC的结构特点,DFT成为SoC设计中的一项关键技术.由于任何一种测试方法的基本原理都是敏化和传递故障,因此不可避免地使电路内部节点的翻转情况变得更加密集,同时逻辑设计所采用的低功耗设计在测试模式下通常无法起作用,从而在测试模式下必然会产生出比正常工作状态大得多的功率消耗.测试功耗问题将会极大影响产品成品率.因此降低测试功耗是所有测试方法在处理高性能电路系统时必须考虑的问