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近几年来颗粒测定技术主要保中在微米和亚微米范围。光电子学技术设备的不断改进，使开发用于测定颗粒的形状和粒度的图象分析测量程序成为可能。Ｈａｖｅｒ ＣＰＡ是用于测定毫米范围颗粒粒度的新型图象分析程序。它提供分析自由落体或运动中非团聚物料的方法。本文介绍的在线自动粒度分析仪和破碎机一起用于连续监测。分析结果连续地转换成破碎机的控制和调节信号，从而避免了不正常生产，产品得到改进，产值得到提高。工厂人员使