62Sn—36Pb—2Ag焊点的可靠性及热疲劳位错亚结构的演化分析

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采用热疲劳试验分析了表面封装焊点的可靠性。讨论了不同的元器件及基片镀层工艺对焊点可靠性的影响,初步探讨了热疲劳过程中位错亚结构的变化及焊点的失效机理。结果表明:金属间化合物对焊点失效有重要影响.镀Au焊点热疲劳裂纹萌生于AuSn4金属间化合物并在其中扩展,镀Ni/Au焊点热疲劳过程中位错在AuSn4粒子处塞积,引起AuSn4/β-Sn界面应力集中,导致热疲劳裂纹沿AuSn4/β-Sn界面萌生,萌生后的裂纹在β-Sn相中扩展,TEM观察也证明β-Sn相中位错密度较高。
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