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工艺尺寸进入纳米工艺后,数字电路的可靠性面临高能粒子效应、延时故障、器件老化等方面的威胁.提高可靠性,同时也面临着面积、延时、功耗等方面的挑战.针对高能粒子瞬时效应中影响组合逻辑电路的单事件瞬态(SET),本文提出一种对面积开销有效的组合逻辑选择性加固方案.ISCAS-89标准电路在45nm Nangate工艺下的实验证明,该方案平均增加11.14%-44.74%的面积开销,可达到50%-99%的可靠性.