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研究了用于Ｘ光电子谱的多道检测系统，其中包括ＭＣＰ倍增、荧光屏电光转换、光电二极管阵列光电转换等，它可将能量分析器出口处带电粒子的能理与空间信息并行地取得，再以串行的方式输出，可以得到高分辨率下最好的检测效率，而且可工作在单位子计数的高精度状态，介绍了该系统各环节的分步实验、线型１２８象元光电二极管阵列的采样方法、模拟能谱实验结果。