【摘 要】
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测试时被测IC的某输出端不会变化，总是高电平或低电子，自然该芯片通不过测试，除了该芯片本身已损坏之外，常为该输出端外部负载过重或对地、对源短路所致，如该输出端所驱动的下级IC
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测试时被测IC的某输出端不会变化，总是高电平或低电子，自然该芯片通不过测试，除了该芯片本身已损坏之外，常为该输出端外部负载过重或对地、对源短路所致，如该输出端所驱动的下级IC输入端性能变坏或短路，输出印刷线漏电或短路，都会造成这种情况。有时由于该输出端接有电容负载，使输出电平过一段时间才能变高，测试工作频率较高的测试仅误测为低电平，而使测试通不过。例如一块日本TOSNUC-600数控系统ZPU1板，采用超能TL4040型测试仪进行检查，发现其
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